光學(xué)檢測(cè)儀和激光干涉儀
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傳統(tǒng)光學(xué)面形評(píng)價(jià)指標(biāo)如峰谷值(PV)、均方根值(RMS)及粗糙度,僅覆蓋了表面面形低頻及高頻頻率段,不能有效評(píng)價(jià)元件表面中頻頻段的面形誤差,而對(duì)于中頻部分面形誤差的評(píng)價(jià)的最好指標(biāo)就是使用功率譜密度。美國(guó)NIF根據(jù)畸變波前空間調(diào)制周期L的大小,將畸變波前分為三個(gè)頻段:低頻段(L≥33mm),中高頻段(0.12mm<L<33mm)、高頻段(L≤0.12mm),并分別用PV及GRMS(位相均方根梯度)、PSD、RMS作為各個(gè)頻段的評(píng)價(jià)參數(shù)。
波前功率譜密度(PSD),其計(jì)算的本質(zhì)是傅里葉頻譜分析,分析時(shí)不受元件孔徑的限制,便于對(duì)不規(guī)則外形的元件進(jìn)行各種頻率分量的分析。采用PSD描述方法,通過(guò)傅里葉變換,可以定量地給出光學(xué)元件波前誤差的空間頻率分布,從而確定各個(gè)頻率分量的影響。
在對(duì)光學(xué)表面面形評(píng)價(jià)的應(yīng)用中,功率譜密度的定義為波面頻率分量傅立葉頻譜振幅的平方,其一維形式為:
式中fi空間頻率,Δf = fi+1-fi(i=1,2,3,……)為頻率間隔,A(fi)是z(x)的一維傅里葉變換:
其中z(x)是光學(xué)輪廓函數(shù)。
在實(shí)際應(yīng)用中,可以通過(guò)波面相位函數(shù)直接得到,一維PSD為:
其中,Φ*(f)表示取復(fù)共軛,L為取樣長(zhǎng)度,Φ(f)為空間域二維位相函數(shù)ф(x)的傅里葉變換。同理得出二維波面PSD為:
其中,Lx,Ly分別為X軸、Y軸方向上的空間域采樣長(zhǎng)度,Φ(fx,fy)為空間域二維位相函數(shù)ф(x,y)的傅里葉變換。
數(shù)字干涉儀測(cè)得的輪廓數(shù)據(jù)是離散的,離散化后其一維形式為:
其中m∈[-N/2,N/2],N為采樣點(diǎn)數(shù),Δx為采樣間隔,m為頻率離散自變量,z(n)為被測(cè)波面的采樣點(diǎn)數(shù)據(jù)。z(n)為波面數(shù)據(jù),n=0,1,2,…,N-1。將干涉儀測(cè)得的波面數(shù)據(jù)帶入上式就可以得到被測(cè)樣品的PSD值
同理,PSD的二維離散形式為:
PSD并不是一個(gè)單一的量值,而是一個(gè)分布圖,在干涉檢測(cè)中表示了光學(xué)元件面形的頻譜在各個(gè)空間頻率成分的權(quán)重分布。它直接反應(yīng)了在頻域中不同頻率所對(duì)應(yīng)的值(誤差、能量或其他)。
波前PSD的測(cè)量實(shí)際上是對(duì)光學(xué)元件反射波前或透射波前的檢測(cè)。在干涉儀上獲得光學(xué)元件的波前誤差,沿水品方向和垂直方向分別對(duì)波前誤差數(shù)據(jù)進(jìn)行傅里葉便函,即可分別得到兩個(gè)一維的PSD結(jié)果。PSD曲線的強(qiáng)烈的波紋表示該包面輪廓具有明顯的空間波紋起伏信息。
下面展示了使用我司研制的某型干涉儀對(duì)某光學(xué)表面進(jìn)行測(cè)量,得到的測(cè)量結(jié)果。首先在軟件中對(duì)測(cè)量區(qū)域進(jìn)行標(biāo)定,設(shè)置采樣長(zhǎng)度。
然后點(diǎn)擊測(cè)量按鈕完成對(duì)光學(xué)表面的測(cè)量。生成面形的二維和三維圖,計(jì)算得出PV、RMS等面形質(zhì)量評(píng)價(jià)參數(shù),同時(shí)自動(dòng)生成波前的PSD曲線。
根據(jù)PSD的一維表達(dá)式,A(fi)的量綱為(m)2,Δf的量綱為(m)-1,所以一維PSD的量綱為(m)3,即一維的量綱為長(zhǎng)度單位的三次方,在應(yīng)用中通常采用(nm2mm)做為單位。
同理根據(jù)二維PSD離散表達(dá)式,可知二維PSD的量綱為長(zhǎng)度單位的四次方。在應(yīng)用中通常采用(nm2mm2)作為單位。
(二)PSD曲線與標(biāo)準(zhǔn)偏差(RMS)之間的關(guān)系
由Parseval定理得,在相同頻段范圍內(nèi)PSD曲線下方包含的“面積”等于波面均方根(RMS)的平方,即:
一維形式:
二維形式為: