光學(xué)檢測儀和激光干涉儀
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使用干涉儀檢測大口徑光學(xué)元件時,需要配備比被測件口徑更大的標(biāo)準(zhǔn)鏡,這無疑增加了檢測成本,此外,用干涉儀直接檢測較大口徑的光學(xué)元件容易丟失高頻信息。子孔徑拼接法可以突破干涉儀自身口徑大小的限制,對更大口徑的光學(xué)元件進行高精度測量,實現(xiàn)“以小測大”的功能,降低了檢測成本,并且在一定程度上提高了檢測分辨率,同時還能保留被截去的面形高頻信息。
如圖1所示,子孔徑拼接干涉檢測過程主要有以下三個步驟:子孔徑劃分、子孔徑掃描、通過子孔徑拼接算法處理數(shù)據(jù)恢復(fù)全口徑面形。
圖1 子孔徑拼接測量流程圖
根據(jù)干涉儀視場和待測鏡面的比例大小、子孔徑之間重疊區(qū)域的大小選擇合適的子孔徑圈數(shù),確定子孔徑個數(shù)以及分布。為了保證拼接的準(zhǔn)確性,一般要求子孔徑之間的重疊區(qū)域不少于子孔徑口徑的1/4。
根據(jù)子孔徑規(guī)劃找出測量各子孔徑的最佳路徑,通過干涉儀和待測鏡之間的相對運動,將干涉儀對準(zhǔn)某個子孔徑,將該子孔徑的干涉圖調(diào)節(jié)至零條紋后進行干涉檢測,之后運動到下一個子孔徑位置,直到所有子孔徑面形均測量完為止。根據(jù)相對運動的方式不同,可以分為平移掃描和旋轉(zhuǎn)掃描,平移掃描需控制x、y軸的移動讓子孔徑檢測區(qū)域覆蓋待測件;旋轉(zhuǎn)掃描是在某一軸上進行平移,達(dá)到位置后旋轉(zhuǎn)待測件以改變子孔徑檢測區(qū)域。旋轉(zhuǎn)掃描對機械定位要求更高,但是可以減少所需平移的行程,所以應(yīng)該根據(jù)具體檢測環(huán)境選擇合適的掃描方式。
圖2 掃描方式(左)平移掃描、(右)旋轉(zhuǎn)掃描
由于在條紋調(diào)零過程中和子孔徑定位時會引入像差,導(dǎo)致重疊區(qū)域的相位值并不完全一致,所以需要選擇合適的拼接算法消除相鄰孔徑間的平移、傾斜(球面鏡還需要消除離焦)誤差等,將各個子孔徑檢測結(jié)果拼接到一個相同的坐標(biāo)系,得出全口徑面形。