光學(xué)檢測儀和激光干涉儀
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在檢測寶石基片、陶瓷盤等面形粗糙度較大的待測件時,常常會因?yàn)榇郎y件面形PV值過大而超出干涉儀的測量范圍,因此要采用斜入射法測量材料面形。
采用斜入射法檢測大口徑平面面形的基本原理如圖1所示。由斐索干涉儀參考平面A透射的波面經(jīng)待測平面C反射后,入射到標(biāo)準(zhǔn)反射鏡B并按原光路返回,與參考波面干涉形成干涉條紋。斐索干涉儀的測試結(jié)果表示被測面相對于干涉儀參考面的偏差。
圖1 斜入射法測量光路圖
可以看出,斜入射法檢測與一般的干涉檢驗(yàn)不同,光線在被測面上反射了兩次,由此引起的結(jié)果是將被測面的面形誤差放大了兩倍。因此必須將檢驗(yàn)得到的波面面形數(shù)據(jù)縮小四倍,這樣才能真實(shí)地反映出被檢鏡面的面形情況。另一方面,在檢測過程中光束斜入射到待測面上,形成的干涉圖呈橢圓形,要根據(jù)光瞳面與被測面的映射關(guān)系進(jìn)行坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換,進(jìn)而恢復(fù)待測面形。
對于同一被測件,斜入射干涉圖在橫向被壓縮,所得被測件波面的橫向空間分辨率降低。由圖1可知,斜入射測量得到的波面沿被測件傾斜方向壓縮比為 cos α,即
α角的增大會導(dǎo)致斜入射干涉圖橫向分辨率損失變大。
干涉圖比例因子(ISF)反應(yīng)了干涉圖所代表的被測波前與實(shí)際被測物體表面面形信息的關(guān)系。斐索干涉儀正入射測試時,干涉圖比例因子為0.5。斜入射測量裝置的干涉圖比例因子為:
測量斜入射角度α計算出干涉圖比例因子后,便可以由測試波面估算出待測面的面形。當(dāng)α=60°時,斜入射的干涉圖比例因子與正入射時相同。
根據(jù)干涉條紋對比度的定義式,兩次反射斜入射的干涉條紋對比度C可以表示為:
式中 RA、RB分別為A、B正入射時的光強(qiáng)反射比,RC(α)是入射角為α時C的光強(qiáng)反射比??梢姰?dāng)平面A、B材料性質(zhì)確定后,條紋對比度隨著斜入射角α和C的反射率變化而發(fā)生變化。根據(jù)公式,要獲得高對比度的干涉條紋需要選擇較大的入射角。
綜合斜入射角α對干涉圖分辨率、干涉圖比例因子與條紋對比度的影響,實(shí)際測量時應(yīng)合理選擇α值。